測(cè)試測(cè)量

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  • 硬件級(jí)同步技術(shù) 高精度時(shí)間同步實(shí)現(xiàn)與應(yīng)用的關(guān)鍵
    如何通過硬件級(jí)PTSS/CTSS技術(shù)實(shí)現(xiàn)亞微秒級(jí)時(shí)間同步,支持多傳感器數(shù)據(jù)精準(zhǔn)對(duì)齊?PSB+QX550方案采用GPS/PPS/本地時(shí)鐘冗余設(shè)計(jì),具備動(dòng)態(tài)容錯(cuò)功能,適用于自動(dòng)駕駛測(cè)試等需要高精度時(shí)間同步的場景。
  • 4K超高清SDI視頻信號(hào)測(cè)試方法介紹
    4K超高清SDI視頻信號(hào)測(cè)試是確保SDI信號(hào)攝像機(jī)輸出高質(zhì)量視頻信號(hào)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過關(guān)注眼圖、抖動(dòng)、誤碼率以及電平幅度等關(guān)鍵測(cè)量指標(biāo),并使用專業(yè)的SDI信號(hào)分析儀進(jìn)行測(cè)試,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決攝像機(jī)在信號(hào)輸出、傳輸?shù)确矫娴膯栴}。除直接對(duì)SDI信號(hào)進(jìn)行測(cè)試之外,SDI信號(hào)分析儀還支持發(fā)生標(biāo)準(zhǔn)的SDI信號(hào)給被測(cè)設(shè)備,通過再將經(jīng)過被測(cè)設(shè)備輸出后的SDI信號(hào)重新接入給SDI信號(hào)分析儀,以此形成閉環(huán)測(cè)試,能夠更清楚的判斷出被測(cè)設(shè)備的對(duì)SDI信號(hào)的處理能力,能夠滿足多樣的測(cè)試需求。
  • 4K有線數(shù)字電視節(jié)目質(zhì)量測(cè)試方法
    在數(shù)字電視技術(shù)的測(cè)試領(lǐng)域,度緯科技積累了豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn),專注于提供高質(zhì)量的服務(wù)和解決方案。針對(duì)4K有線數(shù)字電視節(jié)目的測(cè)試需求,我們有著專業(yè)且有效的解決方案。該方案結(jié)合實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),旨在確保測(cè)試過程的精準(zhǔn)度與可靠性。我們誠摯地邀請(qǐng)您與我們聯(lián)系,共同探討如何為您的項(xiàng)目帶來更加良好的測(cè)試體驗(yàn)。路漫漫,其修亦遠(yuǎn)。我們期待與您攜手,共創(chuàng)數(shù)字電視領(lǐng)域的新未來。
  • 新型功率器件的老化特性:HTOL高溫工況老化測(cè)試
    隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,這些器件在長期連續(xù)使用后會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象,導(dǎo)致性能退化。如何在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確評(píng)估這些器件的老化特性,成為行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。 目前,針對(duì)功率器件的老化測(cè)試主要包括多種不同的測(cè)試方式。其中,JEDEC制定的老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測(cè)試)主要針對(duì)傳統(tǒng)的硅基功率器件
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  • 自動(dòng)駕駛仿真進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)時(shí)代 加速算法驗(yàn)證
    自動(dòng)駕駛領(lǐng)域,仿真與標(biāo)準(zhǔn)接口至關(guān)重要。aiSim集成ASAM OpenX系列標(biāo)準(zhǔn),通過OpenDRIVE、OpenSCENARIO等五大標(biāo)準(zhǔn),全面優(yōu)化仿真各環(huán)節(jié),提升測(cè)試效率與規(guī)范性,推動(dòng)自動(dòng)駕駛規(guī)?;涞?。